Esd in Silicon Integrated Circuits
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Thema dieses Buches sind elektrostatische Entladungseffekte (ESD) in integrierten Siliciumschaltkreisen, die sich zu einem wesentlichen Problem der modernen hochintegrierten Schaltungen mit Strukturbreiten in Sub-Mikrometer-Dimensionen entwickelt haben. Diese 2. Auflage des klassischen Handbuchs liefert einen kompletten Überblick über alle Aspekte des ESD und die unmittelbaren Folgerungen für Entwurf und Entwicklung neuer Schaltkreise und Technologien. Die Hälfte des Materials wurde neu aufgenommen. das Autorenteam wurde um drei international anerkannte Experten erweitert.
Format:Hardcover
Language:English
ISBN:0471498718
ISBN13:9780471498711
Release Date:May 2002
Publisher:Wiley
Length:424 Pages
Weight:2.05 lbs.
Dimensions:1.1" x 6.4" x 9.6"
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